项目内容

EDX谱线及面扫采集。样品厚度需小于100nm。可选择不同的能量范围。

样品要求

• 样品数量：填写需要测试样品的数量;

• 样品编号：请为样品编号;

• 样品类型：亚微米粉末材料，块体材料，半导体器件;

• 样品名称及主要成分：请填写具体物质/化学式/主要成分;

• 样品状态及制样需求：块体/薄膜或半导体器件样品若需FIB制样，请下单FIB常规定点制样；块体/薄膜样品厚度要达到100nm以下才能进行纳米级EDX mapping；原子级EDX mapping 取决于样品情况，一般都需要进一步优化样品，表征周期较长；粉末样品若需制样，请下单粉末样品制备;

• 样品是否有磁性：弱磁：含有磁性元素，不能被磁铁吸起；强磁：可以被磁铁吸起。磁性样品请务必提供粉末验磁，若只能提供液体则按强磁算。若样品中含有Gd,Tb,Dy,Ho,Er等稀土元素，也请用磁铁验证磁性的强弱。请务必仔细检查您的样品;若发现以弱磁强磁充当非磁或以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；若因隐瞒样品真实情况造成仪器损伤，将按照实际情况进行赔付;

• 如自己制样寄送：请备注样品制备方法，是FIB或者减薄等其他方式处理过的样品；如含有磁性元素请提供原样（含有磁性元素请参照第6条）;

• 为确保测试质量请务必提前与我们沟通.

部分案例