项目内容

样品的微观形貌及晶体结构表征：如颗粒尺寸及分布情况，缺陷分析及其分布情况，界面结构，晶面间距测量等。可拍摄透射电镜图片，高分辨透射电镜图片，微区衍射图片，及扫描透射电镜图片。

样品要求

• 样品数量：填写需要测试样品的数量；

• 样品编号：请为样品编号；

• 样品类型：亚微米粉末材料，块体材料，半导体器件；

• 样品名称及主要成分：请填写具体物质/化学式/主要成分；

• 样品状态及制样需求：块体/薄膜或半导体器件样品若需FIB制样，请下单FIB定点制样及优化；块体/薄膜样品厚度要达到150nm以下才能进行TEM拍摄；粉末样品若需制样，请下单粉末样品制备；

• 样品是否有磁性：弱磁：含有磁性元素，不能被磁铁吸起；强磁：可以被磁铁吸起。磁性样品请务必提供粉末验磁，若只能提供液体则按强磁算。若样品中含有Gd,Tb,Dy,Ho,Er等稀土元素，也请用磁铁验证磁性的强弱。

  请务必仔细检查您的样品，若发现以弱磁强磁充当非磁或以强磁充当弱磁非磁，我们将可能无法安排您的实验，不承担以此造成的时间和样品损失；若因隐瞒样品真实情况造成仪器损伤，将按照实际情况进行赔付；

• 如自己制样寄送：请备注样品制备方法，是FIB或者减薄等其他方式处理过的样品；如含有磁性元素请提供原样（含有磁性元素请参照第6条）；

• 为确保测试质量请务必提前与我们沟通。

部分案例